1. IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
پدیدآورنده: sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع: Testing Data processing ، Electronic circuits,، Computer architecture,، Boundary scan testing
رده :
TK
7867
.
E54
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)